Die gängigsten Branchenlösungen
Ein Verfahren – Vielseitge Anwendungen
GDOES
Unsere Lösungen
Die GDOES wird sowohl zur quantitativen als auch zur qualitativen Bestimmung von Elementen eingesetzt, wodurch das Anwendungsspektrum unserer Glimmentladungsspektrometer äußerst vielseitig ist. Unsere Kunden sparen Zeit und Kosten, da mit einer einzigen Messung zwei Verfahren (Bulk- und Tiefenprofilanalyse) abgedeckt werden können. Darüber hinaus liefern alle Geräte der GDA-Serie genaueste Ergebnisse und sichern so die Qualität von Werkstoffen und Bauteilen. Nachfolgend sind einige Analysenergebnisse aufgeführt.
Höchste Genauigkeit
Messung der Dicke von ultradünnen Schichten/ Dünnschichten und Bestimmung des Gewichts von Schichten.
Oberflächenanalyse
Messung der chemischen Zusammensetzung von Schichten, Substraten und komplexen Bulkmaterialien.
GDOES – Die erste Wahl zur präzisen Analyse von Elementzusammensetzungen und Schichtdicken fester Materialien.
- Elementanalyse
Entdecken Sie, was in Ihren Proben steckt – Genau und umfassend.
Jetzt ansehen + - Tiefenprofilanalyse
Ergründen Sie die Beschaffenheit komplexer Feststoffe.
Jetzt ansehen + - Schichtdickenbestimmung
Optimieren Sie Schicht für Schicht die Qualität Ihrer Materialien.
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Einblick in Materialoberflächen
Ergebnisse
mittels GDOES
In der Grafik wird das Tiefenprofil einer beschichteten Messingprobe dargestellt, die durch eine GDOES-Messung erfasst wurde.
Der Ausschnitt zeigt eine Bulk-Messung an einer niedrig legierten Stahlprobe. Dabei werden die Gehalte verschiedener Elemente wie Fe, C, Si, Mn, P, S, Cr und Ni in Prozent angegeben. Zusätzlich werden der Mittelwert, die Standardabweichung sowie die relative Standardabweichung in Prozent dargestellt.
Die dargestellte Abbildung zeigt das Tiefenprofil einer gekrümmten Probe, die mit Hilfe der Universalmesskammer gemessen wurde. Unsere Geräte ermöglichen zudem die Messung sowohl von leitenden als auch nicht-leitenden Schichten, was eine breite Anwendungspalette abdeckt.
Bei dieser Abbildung handelt sich um das Tiefenprofil einer CIGS-Solarzelle. Die durchgeführte GDOES-Messung zeigt die Schichten CdS/ZnO auf CIGS auf Glas. Im Vergleich zu einer Messung mittels REM erweisen sich die Ergebnisse als präziser und genauer.
Die dargestellte Abbildung veranschaulicht das Tiefenprofil einer nitrocarburierten Probe, wobei die Stickstoffschicht eine Dicke von 7,8 μm aufweist. Die präzise Tiefenprofilanalyse mittels GDOES identifiziert genaustens Schichtgrenzen und liefert somit entscheidende Einblicke in die Materialstruktur.
Bei der Veredelung von Werkstoffen, wie im Fall des gezeigten Tiefenprofils einer verzinkten Metallprobe mittels GDOES, kann die Schichtdicke und Zusammensetzung genaustens geprüft werden.
Die vorliegende Abbildung zeigt das Tiefenprofil einer vernickelten Kupferprobe, die mittels GDOES-Messung erstellt wurde. Die Methode ermöglicht eine detaillierte Darstellung der Schichtdicke und der Zusammensetzung der Nickelbeschichtung.
Unsere Geräte analysieren Materialien präzise und zuverlässig auf Homogenität, Zusammensetzung und Reinheit, um damit die höchsten Standards unserer Kunden zu erfüllen.
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Präzise Messungen von Schichten im Nanometer- bis Mikrometerbereich
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Hohe Empfindlichkeit mit Nachweisgrenzen von 0,1 bis 10 ppm
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Bestimmung aller Elemente des Periodensystems, einschließlich H, Li, Na, K, C, N, P, S und O
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Relative Tiefenauflösung von 5-10 % der absolut erreichten Tiefe in oberflächennahen Schichten
- Kontrolle über alle Prozessschritte zur Gewährleistung homogener Zusammensetzung und Reinheit der Phasen
- Benutzerdefinierte Tabellen für verschiedene Berechnungen wie Peakpositionen, Konzentrationen und GGI/CGI-Werte
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Die GDA-Serie