Maximieren Sie Ihr Analysepotenzial

Photovoltaik

GDOES

Beschreibung

Dünnschichtsolarzellen stellen eine vielversprechende Technologie im Bereich der Photovoltaik dar. Bei der Herstellung von Dünnschichtsolarzellen werden eine Vielzahl von Halbleiterwerkstoffen eingesetzt, darunter amorphes Silizium, Cadmiumtellurid, CIGS (Kupfer, Indium, Gallium, Schwefel/Selen) und CZTS (Kupfer, Zink, Zinn, Schwefel/Selen). Die genannten Materialien werden auf unterschiedliche Substrate aufgebracht, wobei diese sowohl fest als auch flexibel, metallisch als auch nichtleitend sein können. In Labortests wurden für Dünnschichtsolarzellen bereits Wirkungsgrade von etwa 20 % nachgewiesen. Die Fertigung effizienter Dünnschichtsolarzellen für großflächige Anwendungen erweist sich jedoch als anspruchsvolle Aufgabe. Neben der kontinuierlichen Verbesserung der Absorptionsschicht liegt der Fokus der Hersteller von Dünnschichtsolarzellen auf der Optimierung von Produktionsanlagen, -verfahren und -abläufen. Diese kontinuierlichen Bemühungen zielen darauf ab, die Effizienz, Zuverlässigkeit und Wirtschaftlichkeit dieser Technologie weiter zu erhöhen. Die Glimmentladungsspektrometer von Spectruma® eignen sich in besonderem Maße für schnelle, produktionsbegleitende Kontrollen sowie für wissenschaftliche Forschungsanwendungen.

Höchste Genauigkeit

Messung der Dicke von ultradünnen Schichten/ Dünnschichten und Bestimmung des Gewichts von Schichten.

Oberflächen­analyse

Messung der chemischen Zusammensetzung von Schichten, Substraten und komplexen Bulkmaterialien.

Unsere Geräte analysieren präzise und zuverlässig die Homogenität, die Zusammensetzung, sowie die Reinheit der einzelnen Phasen, um sicherzustellen, dass Ihre Komponenten die höchsten Qualitätsstandards erfüllen.

  1. Messung mit hoher Genauigkeit für Schichten von wenigen Nanometern bis hin zu mehreren hundert Mikrometern

  2. Äußerst empfindliche Messungen durch Nachweisgrenzen im Bereich von 0,1 bis 10 ppm

  3. Bestimmung aller Elemente des Periodensystems, einschließlich H, Li, Na, K, C, N, P, S und O

  4. Relative Tiefenauflösung beträgt 5-10 % der absolut erreichten Tiefe in allen oberflächennahen Schichten

  5. Kontrolle über alle Prozessschritte zur Sicherstellung einer homogenen Zusammensetzung und Reinheit der Phasen
  6. Benutzerdefinierte Tabellen für verschiedene Berechnungen, einschließlich Peakpositionen, Konzentrationen und GGI/CGI-Werten

Die GDA-Serie

Unendliche Möglichkeiten –
Wir bringen Licht in jede Schicht.