Schichtdicken­bestimmung

Möchten Sie die Qualität Ihrer Produkte verbessern oder gezielt Materialeigenschaften verändern? Mit den individuell konfigurierbaren Glimmentladungsspektrometern von Spectruma können Sie herkömmlichen Analyseverfahren Lebewohl sagen! Dank der leistungsstarken Glimmentladungsspektroskopie, kurz GDOES, analysieren Sie dünne bis ultradünne Schichten im Nanometerbereich sowie technische Schichten mit Dicken über 100 µm mit höchster Präzision und Reproduzierbarkeit. Unsere GDOES-Spektrometer messen nahezu zerstörungsfrei und hochpräzise die Schichtdicken Ihrer Proben, was zu einer signifikanten Verbesserung der Qualität und Effizienz Ihrer Bauteile führt. GDOES kann in einer Vielzahl von Anwendungen eingesetzt werden, insbesondere dort, wo die Modifikation und Prüfung von Beschichtungen von Bedeutung ist.

Höchste Genauigkeit

Messung der Dicke von ultradünnen Schichten/ Dünnschichten und Bestimmung des Gewichts von Schichten.

Oberflächen­analyse

Messung der chemischen Zusammensetzung von Schichten, Substraten und komplexen Bulkmaterialien.

Schicht für Schicht präzise Analyse: Unverzichtbar für Ihre Produktionsprozesse.

  1. Präzise Messung von Schichtdicken in verschiedenen festen Materialien
  2. Analyse von dünnen bis ultradünnen Schichten im NanometerbereichUntersuchung der Schichtstruktur und genaue Charakterisierung der Schichten
  3. Untersuchung der Schichtstruktur und genaue Charakterisierung der Schichten
  4. Optimierung der Produktqualität und Effizienz in der Produktion
  5. Einfache Bedienung durch programmierbare Software, die gewünschte Bedingungen automatisch erkennt
  6. Keine Probenpräparation erforderlich, direkte Analyse aus der Produktion möglich

Die GDA-Serie

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