Auftragsanalyse
Kundenspezifische Analysen
Profitieren Sie von unserem fundierten Fachwissen und unserer langjährigen Erfahrung im Bereich der Auftragsanalyse. Wir passen unsere Leistungen individuell an Ihre Bedürfnisse an und entwickeln in enger Abstimmung mit Ihnen einen maßgeschneiderten Workflow für die Durchführung verschiedener Analyseverfahren im Bereich der Oberflächen-, Grenzflächen- und Dünnschichtanalytik. Durch die gezielte Kombination unterschiedlicher Analyseverfahren erhalten Sie detaillierte Informationen über die Eigenschaften, Zusammensetzung und Struktur Ihrer Proben. Auf diese Weise können wir Ihnen eine umfassende Analyse bieten, die Ihnen bei der Beurteilung und Optimierung Ihrer Materialien und Oberflächen hilft. Verlassen Sie sich auf unsere Expertise, um präzise und aussagekräftige Ergebnisse zu erzielen. Unsere hochmodernen Analysegeräte der GDA-Reihe und unser engagiertes Team stehen Ihnen dabei zur Seite. Am Ende der Seite finden Sie unser Formular, mit dem wir Ihre Anfragen direkt bearbeiten können.
Umfassende
Materialcharakterisierung
Durch die Kombination von Dünnschicht- und Oberflächenanalytik erhalten Sie detaillierte Informationen über die Eigenschaften, Zusammensetzung und Struktur der Proben.
Optimierung von
Materialien und Oberflächen
Identifizieren Sie potenzielle Schwachstellen und erhalten Sie eine fundierte Entscheidungsgrundlage zur Beurteilung und Optimierung Ihrer Proben.
Unsere Analysen finden begleitend Anwendung in Forschung und Entwicklung, Qualitätssicherung, Universitäten und Hochschulen sowie in vielen wichtigen Industriezweigen.
Unser Leistungsspektrum
- Quantitative Tiefenprofilanalysen leitender Schichten
- Quantitative Tiefenprofilanalysen nichtleitender Schichten
- Bestimmung der chemischen Zusammensetzung ihres Grundmaterials (Vollanalyse, Bulk)
- Weitere Verfahren in der Oberflächen-, Grenzflächen- und Dünnschichtanalytik
Einblick in Materialoberflächen
Ergebnisse
mittels GDOES
In der Grafik wird das Tiefenprofil einer beschichteten Messingprobe dargestellt, die durch eine GDOES-Messung erfasst wurde.
Der Ausschnitt zeigt eine Bulk-Messung an einer niedrig legierten Stahlprobe. Dabei werden die Gehalte verschiedener Elemente wie Fe, C, Si, Mn, P, S, Cr und Ni in Prozent angegeben. Zusätzlich werden der Mittelwert, die Standardabweichung sowie die relative Standardabweichung in Prozent dargestellt.
Die dargestellte Abbildung zeigt das Tiefenprofil einer gekrümmten Probe, die mit Hilfe der Universalmesskammer gemessen wurde. Unsere Geräte ermöglichen zudem die Messung sowohl von leitenden als auch nicht-leitenden Schichten, was eine breite Anwendungspalette abdeckt.
Bei dieser Abbildung handelt sich um das Tiefenprofil einer CIGS-Solarzelle. Die durchgeführte GDOES-Messung zeigt die Schichten CdS/ZnO auf CIGS auf Glas. Im Vergleich zu einer Messung mittels REM erweisen sich die Ergebnisse als präziser und genauer.
Die dargestellte Abbildung veranschaulicht das Tiefenprofil einer nitrocarburierten Probe, wobei die Stickstoffschicht eine Dicke von 7,8 μm aufweist. Die präzise Tiefenprofilanalyse mittels GDOES identifiziert genaustens Schichtgrenzen und liefert somit entscheidende Einblicke in die Materialstruktur.
Bei der Veredelung von Werkstoffen, wie im Fall des gezeigten Tiefenprofils einer verzinkten Metallprobe mittels GDOES, kann die Schichtdicke und Zusammensetzung genaustens geprüft werden.
Die vorliegende Abbildung zeigt das Tiefenprofil einer vernickelten Kupferprobe, die mittels GDOES-Messung erstellt wurde. Die Methode ermöglicht eine detaillierte Darstellung der Schichtdicke und der Zusammensetzung der Nickelbeschichtung.